Фіктивна пластина з карбіду кремнію від Semicera створена відповідно до вимог сучасної промисловості високоточних напівпровідників. Відомий своєю винятковою міцністю, високою термічною стабільністю та надзвичайною чистотою, цейвафельниймає важливе значення для тестування, калібрування та забезпечення якості у виробництві напівпровідників. Пластина Semicera з карбіду кремнію забезпечує неперевершену зносостійкість, гарантуючи, що вона може витримувати суворе використання без погіршення якості, що робить її ідеальною як для науково-дослідних, так і для виробничих середовищ.
Створена для підтримки різноманітних застосувань, фіктивна пластина з карбіду кремнію часто використовується в процесах, що включаютьСі Вафель, Підкладка SiC, Вафля SOI, Підкладка SiN, іЕпі-Вафлятехнології. Його видатна теплопровідність і структурна цілісність роблять його чудовим вибором для високотемпературної обробки та транспортування, які є звичайними у виробництві сучасних електронних компонентів і пристроїв. Крім того, висока чистота пластини мінімізує ризики забруднення, зберігаючи якість чутливих напівпровідникових матеріалів.
У напівпровідниковій промисловості фіктивна пластина з карбіду кремнію служить надійною еталонною пластиною для тестування нових матеріалів, включаючи оксид галію Ga2O3 і пластину AlN. Ці нові матеріали вимагають ретельного аналізу та тестування, щоб переконатися в їх стабільності та ефективності за різних умов. Використовуючи фальшиву пластину Semicera, виробники отримують стабільну платформу, яка підтримує послідовність продуктивності, допомагаючи в розробці матеріалів наступного покоління для потужних, радіочастотних і високочастотних застосувань.
Застосування в різних галузях
• Виробництво напівпровідників
Фіктивні пластини SiC необхідні у виробництві напівпровідників, особливо на початкових етапах виробництва. Вони служать захисним бар’єром, захищаючи кремнієві пластини від потенційного пошкодження та забезпечуючи точність процесу.
•Гарантія якості та тестування
У гарантії якості фіктивні пластини SiC мають вирішальне значення для перевірки доставки та оцінки форм процесу. Вони дозволяють точно вимірювати такі параметри, як товщина плівки, опір тиску та індекс відбиття, сприяючи перевірці виробничих процесів.
•Літографія та перевірка шаблону
У літографії ці пластини служать еталоном для вимірювання розміру малюнка та перевірки дефектів. Їх точність і надійність допомагають досягти бажаної геометричної точності, що має вирішальне значення для функціональності напівпровідникових пристроїв.
•Дослідження та розробки
У дослідницько-конструкторському середовищі гнучкість і довговічність SiC Dummy Wafers підтримують широкі експерименти. Їх здатність витримувати суворі умови випробувань робить їх безцінними для розробки нових напівпровідникових технологій.
